SPLS-Technologie - Fortschrittliche Technologie zur effektiven Größenbestimmung und Zählung von Einzelpartikeln vom Nano- bis Mikrobereich

Die Einzelpartikel-Streulicht-Technologie (SPLS - Single Particle Light-Scattering) detektiert und analysiert das in verschiedene Richtungen gestreute Licht von einzelnen Nano- und Mikropartikeln, die einen stark fokussierten Laserstrahl mit nichtsphärischem Querschnitt passieren.

Die Anordnung einzelner Partikel in einer Reihe wird durch hydrodynamische Fokussierung in einer optischen Durchflusszelle erreicht. Durch eine Druckdifferenz entstehen ein auf wenige µm eingeengter zentraler Probenstrom und ein umgebender Hüllstrom. Der Hüllstrom erzeugt eine Art flüssige Barriere für den Probenstrom und verhindert mechanische Verstopfungen. Der Querschnitt des Probenstroms kann dynamisch variiert werden (um den Faktor 35), ohne dass mechanische Teile verändert werden, Damit können die Strömungsbedingungen an die Probenkonzentration angepasst und Impulskoinzidenzien vermieden werden.

Wenn ein Partikel den Fokus des Laserstrahls durchquert, wird das Licht in alle Richtungen gestreut und die Vorwärts- und Seitwärtsstreuung wird gleichzeitig mit zwei PMTs aufgezeichnet und nach Verstärkung und Digitalisierung in Echtzeit analysiert. Die für einzelne Partikel erhaltenen Streulichtintensitäten, werden in bis zu 4,2 x 106 Kanälen sortiert und als hochaufgelöstes Anzahlverteilungshistogramm auf dem Touchscreen dargestellt. Die klassifizierten Intensitäten werden nach der Theorie von Mie in Partikelgrößenverteilungsdichte umgerechnet. Messung, Datenspeicherung und Analyse erfolgen über die Softwareplattform SEPView®.

Ein großer Vorteil ist die gleichzeitige Bestimmung der Partikelkonzentration für jede identifizierte Größenfraktion.

Die SPLS-Technologie ermöglicht Ihnen einen umfassenden Einblick in komplexe Nano- und Submikroteilchensysteme, mit dessen Hilfe Sie maßgeschneiderte Partikel und Dispersionen entwickeln und kontrollieren können.

 


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